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热式质量流量传感器在半导体生产过程中的流量控制技术方案!
发布时间:2025-06-22        浏览次数:13        返回列表

在半导体生产过程中,热式质量流量传感器(MFC)是流量控制的核心技术,其通过高精度测量与智能控制实现工艺稳定性,具体技术方案如下:

一、核心原理与结构

热式质量流量传感器基于热传导效应,通过测量气体流经加热元件时的热量损失来推导质量流量。其核心结构包括:

  • 加热元件:提供恒定热源,气体流动时带走热量。

  • 温度传感器:监测上下游温度变化,温差与质量流量成线性关系。

  • 电路模块:采用恒温差(CTD)或恒功率(CP)模式,将温差信号转换为电信号输出。

以瑞士IST MFS02传感器为例,其采用桥式电路设计,支持CTA模式,可测量极低流量并检测泄漏,同时具备高耐化学性,适用于腐蚀性气体环境。

二、技术优势

  1. 高精度:直接测量质量流量,不受温度、压力影响,精度可达±0.5%FS。

  2. 快速响应:响应时间低至5ms,适配高频脉冲式气体输送需求。

  3. 宽量程比:量程比可达200:1,满足从微小流量到大流量的测量需求。

  4. 耐腐蚀性:采用316L不锈钢或PTFE涂层,兼容NF₃、Cl₂等特种工艺气体。

  5. 智能化:集成边缘计算模块,支持自诊断与预测性维护。

三、在半导体生产中的应用场景

  1. 气体供应与控制

    • 在薄膜沉积、光刻胶涂覆等工艺中,精确控制载气(如N₂)与反应气体(如SiH₄、WF₆)的流量比例。

    • 例如,SiH₄流量波动超过±0.3%可能导致薄膜厚度不均,影响晶体管栅极氧化层的绝缘性能。

  2. 清洗与干燥

    • 控制清洗和干燥过程中的气体流量,确保清洁效果,避免残留杂质影响产品质量。

  3. 气体混合与纯化

    • 根据设定比例实时监测和调节不同气体的流量,确保混合气体的比例精确控制。

    • 检测气体中的杂质和污染物含量,进行气体纯化。

  4. 泄漏检测与防护

    • 实时监测气体流量变化,当流量超过设定阈值或突然变化时,发出警报并采取措施,防止有毒气体泄漏。

四、技术实现方案

  1. 硬件配置

    • 选择高精度热式质量流量传感器,如IST MFS02或敏芯股份MFSH01/MFSL01。

    • 配置高精度电动调节阀,根据传感器信号实时调整阀门开度。

    • 集成智能控制系统,如模糊控制算法或神经网络控制算法,综合考量温度、压力、流量变化率等参数,动态调整阀门开度。

  2. 软件算法

    • 采用数字化信号处理算法,实时补偿环境干扰,确保工艺参数稳定性。

    • 开发气体流量控制软件,实现流量设定、实时监测、报警阈值设定等功能。

  3. 系统集成

    • 将传感器、调节阀、控制系统集成到气体VMB阀门分配箱中,实现气体流量的集中控制。

    • 支持无线通信(如蓝牙5.0或NB-IoT),便于在洁净室环境中快速部署和数据采集。

五、案例分析

  • 沉积二氧化硅(SiO₂)或金属层:流量计同步监测载气与反应气体的流量比例,确保薄膜厚度均匀。

  • 旋转涂覆光刻胶:实时监测溶剂蒸汽的排放流量,避免光刻胶膜厚不均,影响光刻图案的分辨率和线宽粗糙度(LWR)。

  • 蚀刻多晶硅或介质层:控制CF₄、CHF₃等氟碳气体的流量,直接影响蚀刻速率和选择性,流量计需与压力传感器协同工作,动态调整气体流量以维持等离子体的稳定性。

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